美国Hinds Instruments声场的用于平行面样品和多样品扫描的双折射测量系统。
回顾的,不仅仅是2020,更是影视行业每一个激动人心的时刻,斯莫格带你回顾这个特殊年份里与大家如约而至的每一份感动。
美国Lumetrics研发的高精度非接触式测厚仪,采用白光干涉原理,可快速测量12μm-80mm 透光材料的厚度,精度为0.1μm,测单层和多层厚度(20层),可选多探头配置,内部自校准, NIST追溯。更多详情咨询北京昊然伟业光电科技有限公司!
英国Redlux 的OptiLux SD 系统结合一个暗场视觉传感头和一个3轴运动系统,用于测量和评估光学元件的表面质量,可广泛应用于光学元件生产、出货控制、进料检验等过程。
LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列在与全球领先的光学材料制造商合作多年后,Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统,用于测量大面积光学材料,如用于LCD(高达1500mm x 1500mm)的光学材料。 随着液晶显示器材料规格的成熟,专业化的系统已经成为行业所需要的。 美国Hinds现在提供从GEN5到GEN8的LCD玻璃尺寸系统,有可选的倾斜级(所有型号)以及厚度和翘曲测量(仅限GEN5和GEN6)。
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